Samsung Serie 840 SSD im Test: Günstige SSD mit TLC-Speicher
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Neuzustand und Leistungsabfall
Um den Leistungsabfall der Solid State Drives zu überprüfen, haben wir sie im fabrikneuen Zustand, im normalen Zustand (s. Testsystem und -methodik) und nach hoher Belastung mit nur wenig freiem Speicherplatz mit AS SSD getestet.
| Fabrikzustand | Normal | stark genutzt | |
|---|---|---|---|
| Sequenzielles Lesen | 519,26 MB/s | 517,50 MB/s | 376,03 MB/s |
| Sequenzielles Schreiben | 246,78 MB/s | 246,83 MB/s | 59,99 MB/s |
| 4K Lesen | 26,38 MB/s | 25,79 MB/s | 26,36 MB/s |
| 4K Schreiben | 69,73 MB/s | 63,87 MB/s | 54,19 MB/s |
| 4K 64 Lesen | 347,18 MB/s | 357,19 MB/s | 307,34 MB/s |
| 4K 64 Schreiben | 198,83 MB/s | 199,07 MB/s | 51,24 MB/s |
| Zugriffszeit Lesen | 0,063 ms | 0,073 ms | 0,142 ms |
| Zugriffszeit Schreiben | 0,053 ms | 0,055 ms | 0,078 ms |
Leistungsabfälle bei Solid State Drives sind unter hoher Belastung normal. In der Regel betrifft dies jedoch nur die Schreibleistung der Laufwerke. Bei der Serie 840 ist jedoch auch die Leseleistung nicht unerheblich betroffen. Die sequenzielle Leserate sinkt um rund 140 MB/s auf 376 MB/s. Noch deutlicher ist der Leistungsabfall beim Schreiben. Statt 247 MB/s werden unter hoher Belastung ohne TRIM nur noch knapp 60 MB/s erreicht. Das Gleiche gilt für zufällig verteilte Lese- und Schreibzugriffe. Mit ihren TLC-Speicherchips ist die Serie 840 nicht für sehr hohe Belastungen geeignet und auch auf den Einsatz ohne TRIM-Unterstützung sollte verzichtet werden.
Synthetische Benchmarks
Iometer
Zur Messung der maximalen sequenziellen Transferraten verwenden wir das ursprünglich von Intel entwickelte Programm Iometer. Gemessen wird mit einer Warteschlangentiefe von 3 und über das ganze Laufwerk.
Fabian
Max