177 Wear Leveling Count

[MikeMüller]

HDD Sentinel sagt "177 Wear Leveling Count"

Was bedeutet dass denn?

SSD ist eine 840 Pro.

96% Status wird angezeigt.

 

[Qarrr³]

96%, also noch gut 20 mal so lang wie bisher bis sie frühestens schlapp macht. Da befindet sich meine intel 320 sich etwa auch.

 

[Holt]

Der Aktuelle Wert des Attributes (eben wohl diese 96) gibt an, wie viele Prozent der spezifizierten P/E Zyklen der NANDs noch übrig sind, wobei Samsung da immer durch Abschneiden der Nachkommastellen abrundet (andere Hersteller machen das anderes, rundne immer auf oder auch mathematisch korrekt) und der Roh zeigt wie viele P/E Zyklen im Schnitt schon verbraucht sind.

Beim Erreichen der spezifizierten P/E Zyklen sind die NANDs solche SSDs wie die 840 Pro aber noch längst nicht am Ende, es gibt der 840 Pro 128GB hier einen Endurance Test, dort hat sie mehr als 3PB geschrieben und die NANDs haben etwa 6x mal so viele P/E Zyklen ausgehalten wie spezifiziert sind.

Mit 96 bist Du noch da wo die getestete SSD ganz am Anfang des Tests war, die hat bei 97 den Test begonnen.

Weiter sieht man gut, dass die Badblock wie bei vielen anderen SSD im Dauerschreibtest auf xtremesystems.org so etwa nach der Hälfte der Zeit bis zum Totalausfall anfangen sind massiver zu steigen:

Aber erst wenn die ECC-Recoveries massiv ansteigen, dann wird es wirklich kritisch und die NANDs sind dem Ende nah. Die 840 Pro hält rund 6 mal so viel aus und der Verschleiß fing erst wirklich nach der dreifachen Anzahl von P/E Zyklen an und kritisch wird er, wenn die ECC Fehlerrate anfängt massiv zu steigen. Wobei das alles noch diese ECC Fehler sind die korrigiert werden konnten, bei NANDs mit noch kleineren Strukturbreiten und gerade auch den planaren TLC NANDs sind diese korrigierbaren ECC Fehler auch noch weitaus häufiger. Erst bei Attribute "187 Uncorrectable Error Count" werden ECC Fehler gezählt die nicht mehr korrigierbar waren, wo man dann beim Lesen von Daten auch wirklich einen Lesefehler statt der Daten erhält und als User merkt, dass mit der SSD was nicht stimmt, aber zu dem Wert gibt es bei dem Endurance Test keine Angaben, vermutlich weil dort nichts spannendes passiert ist.

 

[Velines]

Ich häng mich mal an den Thread ran

Bei mir ist es eine 840 Evo. Wear_Levelling_Count steht auf 68, Reallocated_Sector_Count bei 100. SSD Reporter (die SSD in einem Mac verbaut) zeigt mir eine Warnung an, der Samsung Magician findet hingegen alles "gut".
Meine Garantie läuft kommenden Monat ab, denkt ihr ich sollte die SSD tauschen lassen? Oder ist die noch in Ordnung?

Danke und Grüße
Velines

Edit: Ich sollte dazu schreiben, dass ich ein paar Probleme mit dem Rechner hatte, die nach SSD oder SATA-Controller aussehen. Hauptsächlich Freezes, ein paar Mal kaputte Dateien und inzwischen ist das Dateisystem kaputt, so dass selbst Disk Warrior es nicht mehr reparieren kann. Ich müsste also sowieso neu installieren.

 

[ChristianHainz]

So wie ich das jetzt verstanden habe, ist das Wear Leveling nur die normale Verbrauchsanzeige der Platte. Also normal dass der Wert sinkt.

 

[Holt]

68 als aktueller Wert oder als Rohwert? Wenn Du in der gleichen Spalte 100 bei Reallocated_Sector_Count angelesen hast, vermute ich mal als aktueller Wert und damit wären dann noch über 2/3 der spezifizierten P/E Zyklen übrig, denn 100 bei Reallocated_Sector_Count dürfte bedeuten, dass es noch keinen Reallocated Sector gibt. Poste doch mal den Screenshot des Programms welchers die Warnung anzeigt, dann sieht man vielleicht an welchem Wert es sich stört. Bei der 840 Evo ist ja der Schlechteste Werte von einige Attributen komischerweise zuweilen auf 1, obwohl es Attribute sind deren Zustand sich nicht mehr bessert und daher dürfte der Aktuelle Wert nicht höher sein, ist er aber und der Rohwert verrät dann auch, dass alles in Ordnung ist. Viele Programme warnen aber trotzdem. Bzgl. der Garantie ist die Aussage von des Herstellertools, also hier von Magician, relevant.

 

[Velines]

Ok, hier mal die Werte direkt von smartctl. Das graphische Tool ist nicht besonders gesprächig.

SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       4670
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   098   098   000    Old_age   Always       -       1328
177 Wear_Leveling_Count     0x0013   068   068   000    Pre-fail  Always       -       385
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot   0x0013   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
181 Program_Fail_Cnt_Total  0x0032   100   100   010    Old_age   Always       -       0
182 Erase_Fail_Count_Total  0x0032   100   100   010    Old_age   Always       -       0
183 Runtime_Bad_Block       0x0013   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
187 Uncorrectable_Error_Cnt 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032   059   041   000    Old_age   Always       -       41
195 ECC_Error_Rate          0x001a   200   200   000    Old_age   Always       -       0
199 CRC_Error_Count         0x003e   099   099   000    Old_age   Always       -       4
235 POR_Recovery_Count      0x0012   099   099   000    Old_age   Always       -       935
241 Total_LBAs_Written      0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       36229380397

Ich hätte die 68 jetzt auch so interpretiert dass quasi erst ein Drittel der designierten Lebenszeit weg ist; mich haben nur die kaputten Dateien (defekte Prüfsummen) und das kaputte Dateisystem verunsichert. Vielleicht macht aber auch der Chipsatz die Grätsche

 

[Holt]

Korrupte Dateien sind zumeist die Folge von RAM Fehlern, also mache mal den RAM Test mit Memtest86 oder Memtest86+, denn korrupte Dateien und Abstürze sind typische Zeichen für RAM Fehler. Teste alle Riegel so wie sie eingebaut sind, ändere da nichts und lass auch die BIOS Einstellungen so wie sie unter Windows betrieben werden, genau so müssen sie ja auch fehlerfrei laufen. Wenn es keine Fehler gibt, warte 6 PASS ob es so bleibt und wenn es Fehler gibt, teste zuerst mit den Standardeinstellungen neu, sollte übertaktet worden sein und danach teste die Riegel einzeln um zu sehen ob einer defekt ist oder ggf. eine andere Ursache vorliegt warum die möglicherweise auch fehlerfreien Riegel nicht fehlerfrei zusammenarbeiten wollen.

Die S.M.A.R.T. Werte sind alle in Ordnung, es wurden eben schon 385 der spezifizierten 1000 P/E Zyklen verbraucht, allerdings haben die NANDs 840er in allen Endurancetests über 3000 P/E Zyklen ausgehalten, bevor die SSDs dann wirklich am Ende ware, also muss bei 1000 verbrauchten P/E Zyklen nocht nicht Schluss sein.

199 CRC_Error_Count 0x003e 099 099 000 Old_age Always - 4

Außerdem hast Du ein Problem mit dem SATA Datenkabel, schau mal ob sich der Wert rechts, also die 4, ändert. Spätestens dann solltest Du prüfen ob beide Stecker des Datenkabels fest sitzen und wenn ja, tausche es aus. Oder hast Du einen Wechselrahmen? Die breiten auch gerne mal solche Probleme.

 

[Velines]

Der RAM ist es nicht, ich hab Memtest schon laufen lassen. Ich nutze normalerweise auch relativ speicher-intensive Anwendungen, dabei ist mir noch nie was aufgefallen. In den Abstürzen hab ich bislang noch kein Muster entdecken können. Sowohl während dem Arbeiten, als auch wenn der Rechner idle ist, hatte ich schon Freezes.

Den SMART-Werte werde ich im Auge behalten, danke für den Hinweis. Irgendwo müsste noch ein SATA-Kabel rumliegen, dann tausch ich das bei Gelegenheit mal aus. Einen Wechselrahmen nutze ich nicht. Wenn ich die SSD nicht tauschen muss dann installier ich jetzt einfach mal neu und schau wie es sich entwickelt.

 

[Holt]

Welches Memtest hast Du wie lange laufen lassen? Memtest nennt sich ein Porgramm von HCI welches unter Windows läuft und da Windows eine eigene Speicherverwaltung hat, kann man nie sagen welches physikalische RAM getestet wird und vor allem auch nie alles RAM testen. Wenn es da keine Fehler gibt, sagt es also gar nichts aus. Es muss Memtest86 oder Memtest86+ sein und wenn der Test nicht erst gerstern war, dann wiederhole ihn, da RAM auch kaputt gehen kann und ein älterer Test daher wertlos ist. Wenn Du korrupte Dateien hast, hast Du sehr wahrscheinlich auch ein RAM Problem.

 

[Velines]

Es war Memtest86+, und zwar in der Nacht von Samstag auf Sonntag

 

[Holt]

Und der Test fehlerfrei und auch wirklich mit allen Riegeln und den BIOS Einstellungen wie sie auch unter Windows verwendet werden? Es nutzt z.B. nichts die Riegel einzeln zu testen oder mit den normalen BIOS Einstellungen zu testen und dann mit irgendwelchen Tweak-Tools die Werte im OS zu verändern. Die Testergebnisse gelten immer nur für die getestete Konfiguration und die sollte eben der entsprechend die auch wirklich verwendet wird, damit man RAM Fehler wirklich erkennen bzw. die Fehlerfreiheit feststellen kann. Ist Dein Systemprofile eigentlich noch aktuell?

 

[Velines]

Ja, alles so wie es sein sollte getestet, und kein Fehler.

Das SysProfil ist bis auf die Laufwerke und die Software noch aktuell. Inzwischen sind es besagte 840 Evo und eine WD Black 2TB; das Plextor-LW hat sich verabschiedet und hier läuft OSX 10.9 (wenn mein Backup fertig ist installier ich neu, dann 10.11) sowie Windows 8.1. Die Hänger treten auch unter Windows auf.

 

[Holt]

Hänger? Dann poste mal die S.M.A.R.T. Werte aller (weiteren) SSDs und HDDs, entweder als Ausgabe von smartctl -a oder als Screenshot von CrystalDiskInfo, die der 840 Evo kannst Du ruhig auch noch mal aktuell siehen und posten.

 

[Velines]

Mit Hänger mein ich Freezes. Das System friert einfach ein. Bei GTA5 bleibt das Bild stehen, Sound (und Skype) läuft noch ca 10s weiter, dann ist da auch Sense.

Die Platte ist übrigens ne WD Green, keine Black. Ich kann mich wieder erinnern, dass ich die Black mal drin hatte, sie mir aber zu laut war

840 Evo:

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Samsung based SSDs
Device Model:     Samsung SSD 840 EVO 250GB
Serial Number:    
LU WWN Device Id: 
Firmware Version: EXT0DB6Q
User Capacity:    250,059,350,016 bytes [250 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    Solid State Device
Device is:        In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is:   ACS-2, ATA8-ACS T13/1699-D revision 4c
SATA Version is:  SATA 3.1, 6.0 Gb/s (current: 3.0 Gb/s)
Local Time is:    Wed Jun 29 22:10:09 2016 CEST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x00)	Offline data collection activity
					was never started.
					Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (  16)	The self-test routine was aborted by
					the host.
Total time to complete Offline 
data collection: 		( 4800) seconds.
Offline data collection
capabilities: 			 (0x53) SMART execute Offline immediate.
					Auto Offline data collection on/off support.
					Suspend Offline collection upon new
					command.
					No Offline surface scan supported.
					Self-test supported.
					No Conveyance Self-test supported.
					Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003)	Saves SMART data before entering
					power-saving mode.
					Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01)	Error logging supported.
					General Purpose Logging supported.
Short self-test routine 
recommended polling time: 	 (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: 	 (  80) minutes.
SCT capabilities: 	       (0x003d)	SCT Status supported.
					SCT Error Recovery Control supported.
					SCT Feature Control supported.
					SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       4672
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   098   098   000    Old_age   Always       -       1329
177 Wear_Leveling_Count     0x0013   068   068   000    Pre-fail  Always       -       385
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot   0x0013   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
181 Program_Fail_Cnt_Total  0x0032   100   100   010    Old_age   Always       -       0
182 Erase_Fail_Count_Total  0x0032   100   100   010    Old_age   Always       -       0
183 Runtime_Bad_Block       0x0013   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
187 Uncorrectable_Error_Cnt 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032   061   041   000    Old_age   Always       -       39
195 ECC_Error_Rate          0x001a   200   200   000    Old_age   Always       -       0
199 CRC_Error_Count         0x003e   099   099   000    Old_age   Always       -       4
235 POR_Recovery_Count      0x0012   099   099   000    Old_age   Always       -       936
241 Total_LBAs_Written      0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       36238265957

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Short offline       Aborted by host               00%         2         -
# 2  Short offline       Aborted by host               00%         0         -
# 3  Short offline       Aborted by host               00%         0         -
# 4  Short offline       Aborted by host               00%         0         -
# 5  Short offline       Aborted by host               00%         1         -
# 6  Short offline       Aborted by host               00%         0         -

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

WD:

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Western Digital Caviar Green (AF)
Device Model:     WDC WD20EARS-00MVWB0
Serial Number:    WD-WCAZA
LU WWN Device Id: 5 0014ee 2b0072bf5
Firmware Version: 51.0AB51
User Capacity:    2,000,398,934,016 bytes [2,00 TB]
Sector Sizes:     512 bytes logical, 4096 bytes physical
Device is:        In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is:   ATA8-ACS (minor revision not indicated)
SATA Version is:  SATA 2.6, 3.0 Gb/s
Local Time is:    Wed Jun 29 22:08:10 2016 CEST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x02)	Offline data collection activity
					was completed without error.
					Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0)	The previous self-test routine completed
					without error or no self-test has ever 
					been run.
Total time to complete Offline 
data collection: 		(36360) seconds.
Offline data collection
capabilities: 			 (0x7b) SMART execute Offline immediate.
					Auto Offline data collection on/off support.
					Suspend Offline collection upon new
					command.
					Offline surface scan supported.
					Self-test supported.
					Conveyance Self-test supported.
					Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003)	Saves SMART data before entering
					power-saving mode.
					Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01)	Error logging supported.
					General Purpose Logging supported.
Short self-test routine 
recommended polling time: 	 (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: 	 ( 351) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time: 	 (   5) minutes.
SCT capabilities: 	       (0x3035)	SCT Status supported.
					SCT Feature Control supported.
					SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x002f   200   200   051    Pre-fail  Always       -       0
  3 Spin_Up_Time            0x0027   167   164   021    Pre-fail  Always       -       6616
  4 Start_Stop_Count        0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       1573
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   200   200   140    Pre-fail  Always       -       0
  7 Seek_Error_Rate         0x002e   100   253   000    Old_age   Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0032   094   094   000    Old_age   Always       -       4808
 10 Spin_Retry_Count        0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
 11 Calibration_Retry_Count 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       1345
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032   200   200   000    Old_age   Always       -       90
193 Load_Cycle_Count        0x0032   095   095   000    Old_age   Always       -       317559
194 Temperature_Celsius     0x0022   113   101   000    Old_age   Always       -       37
196 Reallocated_Event_Count 0x0032   200   200   000    Old_age   Always       -       0
197 Current_Pending_Sector  0x0032   200   200   000    Old_age   Always       -       0
198 Offline_Uncorrectable   0x0030   200   200   000    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0032   200   200   000    Old_age   Always       -       1
200 Multi_Zone_Error_Rate   0x0008   200   200   000    Old_age   Offline      -       0

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Short offline       Aborted by host               90%      4059         -
# 2  Short offline       Aborted by host               90%      1207         -
# 3  Short offline       Aborted by host               90%       579         -
# 4  Short offline       Aborted by host               90%       579         -
# 5  Short offline       Aborted by host               90%        47         -
# 6  Short offline       Aborted by host               90%        46         -

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

 

[Holt]

Die Art von Problem liegt nach meinem Wissen nicht an den Platten, eher an der Graka oder deren Treiber. Die SSD hat keinen neuen Ultra-DMA CRC Fehler und die WD20EARS hat auch einen und eine Menge (317559) Load-Unload Zyklen, was bei der WD Green aber bekannt ist und zuweilen auch als grüner Tod bezeichnet wird.