Intel SSD 530 Serie SATA mit 240 GB im Test: Produkt-Update mit 20-nm-Speicherchips
2/5Neuzustand und Leistungsabfall
Um den Leistungsabfall der Solid State Drives zu überprüfen, haben wir sie im fabrikneuen Zustand, im normalen Zustand (siehe Testsystem und -methodik im Anhang) und nach hoher Belastung mit nur wenig freiem Speicherplatz mit AS SSD getestet.
Fabrikzustand | Normal | Stark genutzt | |
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Sequenzielles Lesen | 494,53 MB/s | 507,07 MB/s | 485,28 MB/s |
Sequenzielles Schreiben | 303,04 MB/s | 241,51 MB/s | 85,19 MB/s |
4K Lesen | 20,83 MB/s | 21,86 MB/s | 21,08 MB/s |
4K Schreiben | 70,20 MB/s | 65,27 MB/s | 62,22 MB/s |
4K 64 Lesen | 207,20 MB/s | 204,20 MB/s | 181,93 MB/s |
4K 64 Schreiben | 227,13 MB/s | 212,98 MB/s | 143,12 MB/s |
Zugriffszeit Lesen | 0,143 ms | 0,147 ms | 0,222 ms |
Zugriffszeit Schreiben | 0,277 ms | 0,274 ms | 0,292 ms |
Das altbekannte SandForce-Phänomen: Wurden erst einmal alle Speicherchips beschrieben, gibt die Schreibleistung ein gutes Stück nach, im Falle der SSD 530 sind es rund 20 Prozent, bei wahlfreien 4K-Schreibzugriffen mit langer Warteschlange sogar knapp 33 Prozent. Bei wenig freiem Speicherplatz und ohne TRIM sinkt die Schreibrate unter Last noch weiter, erholt sich aber wieder, sobald Speicherplatz freigeräumt wurde und der Controller etwas Zeit für Aufräumarbeiten hatte.
Benchmarks
Iometer
Zur Messung der maximalen sequenziellen Transferraten verwenden wir das ursprünglich von Intel entwickelte Programm Iometer. Gemessen wird mit einer Warteschlangentiefe von 3 und über das ganze Laufwerk.