Nach vielen Stunden im Dauerbetrieb will ich hier meine Erfahrung zur Samsung 870 QVO mit 8 TB teilen.
Ich besitze vier 8 TB SSDs, eine diente als Reserve und eine sitzt in einer Workstation (diese habe ich noch nicht überprüft).
Knapp ein Jahr lief die eine SSD super (eigentlich genau 365 Tage, die extra Stunden kommen durch die ganzen Tests zustande), dann traten plötzlich CRC_Error_Count Fehler auf.
Die Partition war weg (ohne Zugriff auf das Laufwerk, einfach so, es gab keinen read oder write Zugriff zu dieser Zeit!). Die Partition konnte wiederhergestellt werden, Daten gesichert (unwichtiger DL Content, war trotzdem nett nicht alles erneut laden zu müssen). SATA Kabel wurden getauscht, dann noch das Mainboard getauscht, Ports gewechselt, die SSD komplett mit dd befüllt.
Anfangs dachte ich, dass es am Board oder dem Kabel liegt, weil nur beim Reboot bei den zwei unauffälligen SSDs CRC Fehler dazugekommen sind (1 pro Reboot und auch nicht immer!), ich weiss nicht warum. Board und Kabel waren neu. Am PSU liegt es ganz sicher nicht.
Schlussendlich sah es dann irgendwann so aus, als ob neue CRC Fehler nur beim Booten auftauchten, dies war dann auch auf die problematische SSD limitiert und es könnte ja nur ein kosmetisches Problem sein (laut ChatGPT). Die Zahl stagnierte dann auch, aber denkste... die Platte hing inzwischen an einem neuen Port/Mainboard/Kabel.
Nach ca. 32 Stunden fiel diese dann jedoch urplötzlich aus (SSD war noch immer leer und es gab keine Zugriffe als dies passierte) und verschwand vom System. Reboot... SSD wieder da... RMA bei Samsung wurde eingeleitet (das dauert ja ewig!).
dmesg zeigte mir noch dies hier an:
Drive 1, die eben beschriebe SSD, welche sporadisch einfach verschwindet, mit 8648 Stunden, 19.55 TB geschrieben (8 TB davon müssen abgezogen werden, diese kamen dazu als ich mit dd die Platte getestet habe und kamen erst nach dem Auftreten der CRC Fehler hinzu):
Drive 2, 9998 Stunden, 5.39 TB geschrieben:
Drive 3, Replacement mit 208 Stunden, 7.01 TB geschrieben (neue Destination der Daten welche auf der ausgefallenen SSD waren):
Ich besitze vier 8 TB SSDs, eine diente als Reserve und eine sitzt in einer Workstation (diese habe ich noch nicht überprüft).
Knapp ein Jahr lief die eine SSD super (eigentlich genau 365 Tage, die extra Stunden kommen durch die ganzen Tests zustande), dann traten plötzlich CRC_Error_Count Fehler auf.
Die Partition war weg (ohne Zugriff auf das Laufwerk, einfach so, es gab keinen read oder write Zugriff zu dieser Zeit!). Die Partition konnte wiederhergestellt werden, Daten gesichert (unwichtiger DL Content, war trotzdem nett nicht alles erneut laden zu müssen). SATA Kabel wurden getauscht, dann noch das Mainboard getauscht, Ports gewechselt, die SSD komplett mit dd befüllt.
Anfangs dachte ich, dass es am Board oder dem Kabel liegt, weil nur beim Reboot bei den zwei unauffälligen SSDs CRC Fehler dazugekommen sind (1 pro Reboot und auch nicht immer!), ich weiss nicht warum. Board und Kabel waren neu. Am PSU liegt es ganz sicher nicht.
Schlussendlich sah es dann irgendwann so aus, als ob neue CRC Fehler nur beim Booten auftauchten, dies war dann auch auf die problematische SSD limitiert und es könnte ja nur ein kosmetisches Problem sein (laut ChatGPT). Die Zahl stagnierte dann auch, aber denkste... die Platte hing inzwischen an einem neuen Port/Mainboard/Kabel.
Nach ca. 32 Stunden fiel diese dann jedoch urplötzlich aus (SSD war noch immer leer und es gab keine Zugriffe als dies passierte) und verschwand vom System. Reboot... SSD wieder da... RMA bei Samsung wurde eingeleitet (das dauert ja ewig!).
dmesg zeigte mir noch dies hier an:
Code:
[Mon Dec 2 09:04:27 2024] sd 1:0:0:0: [sda] Read Capacity(16) failed: Result: hostbyte=DID_BAD_TARGET driverbyte=DRIVER_OK
[Mon Dec 2 09:04:27 2024] sd 1:0:0:0: [sda] Sense not available.
[Mon Dec 2 09:04:27 2024] sd 1:0:0:0: [sda] Read Capacity(10) failed: Result: hostbyte=DID_BAD_TARGET driverbyte=DRIVER_OK
[Mon Dec 2 09:04:27 2024] sd 1:0:0:0: [sda] Sense not available.
[Mon Dec 2 09:04:27 2024] sd 1:0:0:0: [sda] 0 512-byte logical blocks: (0 B/0 B)
[Mon Dec 2 09:04:27 2024] sda: detected capacity change from 15628053168 to 0
[Mon Dec 2 09:04:28 2024] sd 1:0:0:0: [sda] tag#12 access beyond end of device
[Mon Dec 2 09:04:28 2024] I/O error, dev sda, sector 2048 op 0x0:(READ) flags 0x0 phys_seg 32 prio class 0
[Mon Dec 2 09:04:40 2024] EXT4-fs (sda1): shut down requested (2)
[Mon Dec 2 09:04:40 2024] Aborting journal on device sda1-8.
[Mon Dec 2 09:04:40 2024] device offline error, dev sda, sector 7814252544 op 0x1:(WRITE) flags 0x9800 phys_seg 1 prio class 0
[Mon Dec 2 09:04:40 2024] Buffer I/O error on dev sda1, logical block 976781312, lost sync page write
[Mon Dec 2 09:04:40 2024] JBD2: I/O error when updating journal superblock for sda1-8.
Drive 1, die eben beschriebe SSD, welche sporadisch einfach verschwindet, mit 8648 Stunden, 19.55 TB geschrieben (8 TB davon müssen abgezogen werden, diese kamen dazu als ich mit dd die Platte getestet habe und kamen erst nach dem Auftreten der CRC Fehler hinzu):
Code:
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family: Samsung based SSDs
Device Model: Samsung SSD 870 QVO 8TB
Serial Number: S5SSNF0W907845X
LU WWN Device Id: 5 002538 f4390d920
Firmware Version: SVQ02B6Q
User Capacity: 8.001.563.222.016 bytes [8,00 TB]
Sector Size: 512 bytes logical/physical
Rotation Rate: Solid State Device
Form Factor: 2.5 inches
TRIM Command: Available, deterministic, zeroed
Device is: In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is: ACS-4 T13/BSR INCITS 529 revision 5
SATA Version is: SATA 3.3, 6.0 Gb/s (current: 6.0 Gb/s)
Local Time is: Wed Dec 4 13:48:45 2024 CET
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 0) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x53) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
No Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 640) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 098 098 000 Old_age Always - 8648
12 Power_Cycle_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 58
177 Wear_Leveling_Count 0x0013 099 099 000 Pre-fail Always - 4
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0
181 Program_Fail_Cnt_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
182 Erase_Fail_Count_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
183 Runtime_Bad_Block 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0
187 Uncorrectable_Error_Cnt 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032 071 041 000 Old_age Always - 29
195 ECC_Error_Rate 0x001a 200 200 000 Old_age Always - 0
199 CRC_Error_Count 0x003e 030 030 000 Old_age Always - 69951
235 POR_Recovery_Count 0x0012 099 099 000 Old_age Always - 42
241 Total_LBAs_Written 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 41992618058
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged. [To run self-tests, use: smartctl -t]
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
256 0 65535 Read_scanning was never started
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
Drive 2, 9998 Stunden, 5.39 TB geschrieben:
Code:
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family: Samsung based SSDs
Device Model: Samsung SSD 870 QVO 8TB
Serial Number: S5SSNF0W621395J
LU WWN Device Id: 5 002538 f43640654
Firmware Version: SVQ02B6Q
User Capacity: 8,001,563,222,016 bytes [8.00 TB]
Sector Size: 512 bytes logical/physical
Rotation Rate: Solid State Device
Form Factor: 2.5 inches
TRIM Command: Available, deterministic, zeroed
Device is: In smartctl database 7.3/5319
ATA Version is: ACS-4 T13/BSR INCITS 529 revision 5
SATA Version is: SATA 3.3, 6.0 Gb/s (current: 6.0 Gb/s)
Local Time is: Wed Dec 4 13:52:39 2024 CET
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 0) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x53) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
No Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 640) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 098 098 000 Old_age Always - 9998
12 Power_Cycle_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 56
177 Wear_Leveling_Count 0x0013 099 099 000 Pre-fail Always - 2
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0
181 Program_Fail_Cnt_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
182 Erase_Fail_Count_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
183 Runtime_Bad_Block 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0
187 Uncorrectable_Error_Cnt 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032 066 043 000 Old_age Always - 34
195 ECC_Error_Rate 0x001a 200 200 000 Old_age Always - 0
199 CRC_Error_Count 0x003e 099 099 000 Old_age Always - 2
235 POR_Recovery_Count 0x0012 099 099 000 Old_age Always - 44
241 Total_LBAs_Written 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 11570079984
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged. [To run self-tests, use: smartctl -t]
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
256 0 65535 Read_scanning was never started
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
Drive 3, Replacement mit 208 Stunden, 7.01 TB geschrieben (neue Destination der Daten welche auf der ausgefallenen SSD waren):
Code:
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family: Samsung based SSDs
Device Model: Samsung SSD 870 QVO 8TB
Serial Number: S5SSNF0W602036K
LU WWN Device Id: 5 002538 f4360ab1e
Firmware Version: SVQ02B6Q
User Capacity: 8,001,563,222,016 bytes [8.00 TB]
Sector Size: 512 bytes logical/physical
Rotation Rate: Solid State Device
Form Factor: 2.5 inches
TRIM Command: Available, deterministic, zeroed
Device is: In smartctl database 7.3/5319
ATA Version is: ACS-4 T13/BSR INCITS 529 revision 5
SATA Version is: SATA 3.3, 6.0 Gb/s (current: 6.0 Gb/s)
Local Time is: Wed Dec 4 13:55:06 2024 CET
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 0) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x53) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
No Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 640) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 208
12 Power_Cycle_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 13
177 Wear_Leveling_Count 0x0013 100 100 000 Pre-fail Always - 0
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0
181 Program_Fail_Cnt_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
182 Erase_Fail_Count_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
183 Runtime_Bad_Block 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0
187 Uncorrectable_Error_Cnt 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032 066 039 000 Old_age Always - 34
195 ECC_Error_Rate 0x001a 200 200 000 Old_age Always - 0
199 CRC_Error_Count 0x003e 099 099 000 Old_age Always - 5
235 POR_Recovery_Count 0x0012 099 099 000 Old_age Always - 3
241 Total_LBAs_Written 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 15054690720
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged. [To run self-tests, use: smartctl -t]
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
256 0 65535 Read_scanning was never started
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.