.Sentinel.
Admiral
- Registriert
- Okt. 2007
- Beiträge
- 8.631
Hallo zusammen,
ich beschäftige mich in letzter Zeit viel mit der Haltbarkeit von CPUs im Zusammenhang mit Overclocking.
Vor allem auch, welche Einflussgrößen den höchsten Effekt auf eine vorzeitige Alterung der CPU bzw. deren Zerstörung durch Elektronenmigration haben.
Nachdem ich mich durch tonnenweise Seiten in Foren gewühlt habe und dort die unterschiedlichsten Meinungen vertreten werden, habe ich einfach mal ein wenig recherchiert und die Ergebnisse mit meinem begrenzten Verständnis in der Halbleitertechnik verarbeitet.
Nach meinem Verständnis entsteht Elektromigration vornehmlich durch das Verhältnis der Stromstärke (I) zum Leiterquerschnitt.
Das interessante daran ist, dass diesbezüglich in den Quellen erstmal kein Verhältnis zur Spannung hergestellt wird.
Nach meinem Verständnis wäre es somit genau nicht so, dass die Spannung per se die Elektromigration verursacht.
Um das in die Praxis zu übersetzen: Die CPU sollte eigentlich geschont werden, wenn man die maximale Spannung einer CPU im BIOS fixiert, die sie braucht, um ihren Maximaltakt zu erreichen.
Dadurch kann man sicherstellen, dass man wenig Stromstärke über die Leiter ziehen muss, um trotzdem die benötigte Schaltenergie zu erreichen.
Somit wird man zwar höhere Leckströme produzieren und damit die Betriebstemperatur erhöhen, die wiederum auch einen Einflussfaktor auf die Elektromigration hat.
Im Ergebnis jedoch sollte man bei adäquater Kühlung die CPU mit höherer Spannung eher schonen, als dass man mit niedrigeren Spannungen und dafür höheren Stromstärken operiert.
Wenn sich hier jemand gut mit Halbleitern/CPUs auskennt, wäre ich sehr dankbar, wenn er sich zu meinen Überlegungen äußern könnte.
Dank und Gruß
Zero
ich beschäftige mich in letzter Zeit viel mit der Haltbarkeit von CPUs im Zusammenhang mit Overclocking.
Vor allem auch, welche Einflussgrößen den höchsten Effekt auf eine vorzeitige Alterung der CPU bzw. deren Zerstörung durch Elektronenmigration haben.
Nachdem ich mich durch tonnenweise Seiten in Foren gewühlt habe und dort die unterschiedlichsten Meinungen vertreten werden, habe ich einfach mal ein wenig recherchiert und die Ergebnisse mit meinem begrenzten Verständnis in der Halbleitertechnik verarbeitet.
Nach meinem Verständnis entsteht Elektromigration vornehmlich durch das Verhältnis der Stromstärke (I) zum Leiterquerschnitt.
Das interessante daran ist, dass diesbezüglich in den Quellen erstmal kein Verhältnis zur Spannung hergestellt wird.
Nach meinem Verständnis wäre es somit genau nicht so, dass die Spannung per se die Elektromigration verursacht.
Um das in die Praxis zu übersetzen: Die CPU sollte eigentlich geschont werden, wenn man die maximale Spannung einer CPU im BIOS fixiert, die sie braucht, um ihren Maximaltakt zu erreichen.
Dadurch kann man sicherstellen, dass man wenig Stromstärke über die Leiter ziehen muss, um trotzdem die benötigte Schaltenergie zu erreichen.
Somit wird man zwar höhere Leckströme produzieren und damit die Betriebstemperatur erhöhen, die wiederum auch einen Einflussfaktor auf die Elektromigration hat.
Im Ergebnis jedoch sollte man bei adäquater Kühlung die CPU mit höherer Spannung eher schonen, als dass man mit niedrigeren Spannungen und dafür höheren Stromstärken operiert.
Wenn sich hier jemand gut mit Halbleitern/CPUs auskennt, wäre ich sehr dankbar, wenn er sich zu meinen Überlegungen äußern könnte.
Dank und Gruß
Zero
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