Der Test liefert schonmal interessante Information.
Jetzt fehlt es noch an einem anderen Langzeittest, den Computerbase schon in Ansetzen praktiziert: die Haltbarkeit der Daten.
Samsung hatte mit der Einführung der Tristate-Technik schon das Problem, daß die Leseleistung gesunken ist. Ich habe zumindest den Verdacht, daß meine OCS Vector 180 Daten, die etwas länger liegen korrumpiert werden, die Prüfsummen haben sowas aber offenbar nicht abgefangen.
Ich verwende fast täglich ein VM-Ware-Image. Die zugrundeliege Basis ist schon viele Jahre alt, es kommt nur ab und zu ein Snapshot hinzu. Eines Tages gab es nur noch einen Bluescreen beim Booten. Der Binärvergleich mit dem Backup ergab, daß sich das *vmdk-File einfach so verändert hat, von einem Tag auf den anderen, ohne Update vom Zeitstempel.
Meine Vermutung ist, daß die eingebrachte elektrostatische Ladung im Gate nicht zuverlässig erhalten bleibt. Vor 20 Jahren sprach man von 20 Jahren, aber bei der aktuellen Miniaturisierung bei gleichzeitig erhöhter Transostorzahl, könnte öfter mal eine Zelle versagen. Die Tristate haben meinem Verständnis ja auch noch einen weiteren Zwischenwert, der sich vermutlich noch schlechter flashen läßt und auch problematischer beim Auslesen ist. Die sinkende Leseleistung der Samsung EVOs deutet darauf hin. Daß der Spannungslevel sinkt, könnte die Ursache sein, weshalb beim FW-Update bei Samsung alle Daten umkopiert wurden. Womöglich wird das nun auch im Hintergrund im Rahmen des Garbagde-Collection gemacht, daß auch alte Zellen umkopiert werden, ganz ohe Zutun des Anwenders.
Hier wäre auch interessant, ob sich das bei den SMART-Werten bemerkbar macht oder diese nur die Daten anzeigen, welche von außen durch den Controller wandern.
